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Copper Mountain S5065 Analizador de Redes Serie Compact 50 Ohm, 20 kHz a 6.5 GHz, 2-Puertos 2-Trayectorias, Parametros S (S11, S21, S12, S22)
Copper Mountain S5065 Analizador de Redes Serie Compact 50 Ohm, 20 kHz a 6.5 GHz, 2-Puertos 2-Trayectorias, Parametros S (S11, S21, S12, S22)
 
Vistas alternativas:


Precio: $14,294.50 Dólares + IVA


Disponibilidad: 6 a 8 Semanas
Codigo del Producto: S5065

Descripcion
 
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Video en inglés de los analizadores de Redes Compact de Copper Mountain Technologies
Descripcion
El compacto analizador de redes S5065 de Copper Montain Technologies es un VNA de 6.5 GHz, de 2-puertos capaz de tener un rango dinamico de 138 dB.
Esta diseñado para operar en cualquier PC con ambiente Windows.
Gracias a su gran portabilidad, el S5065 puede ser compartido fácilmente dentro de un equipo de trabajo, o llevado al sitio de pruebas.
La aplicación del VNA es gratis y se conecta al VNA por medio de un cable USB estandar, de esta manera se crea una solución segura a futuro, ya que no depende de la computadora interna para el proceso de los datos.
Además se tiene un instrumento fácil de usar con respecto a los instrumentos de banco convencionales.


El S5065 provee una amplia capacidad de analisis, incluyendo analisis en el dominio del tiempo con modos de offset de frecuencia y de gating. SIn costo adicional se pueden hacer mediciones de grado metrologico de parámetros S. Los resultados de la prueba se pueden guardar de manera manual o usando automatizacion a traves de Python, MATLAB, Excel, C++, VB.NET, o LabVIEW.

  • Rango de frecuencia: 9 kHz a 6.5 GHz
  • Medición de parametros: S11, S12, S21, S22
  • Tipos de barrido: Lineal en frecuencia, logaritmico en frecuencia, segmentado, o barrido de potencia
  • Rango dinámico típico mayor a: >138 dB (con un rango de frecuencia intermedia IF de 1 Hz)
  • Velocidad de medición: 70 µs, mínimo típico.
  • Rango de ajuste de salida de potencia de: -50 dBm to +5 dBm
  • Hasta 200,001 puntos de medición por barrido

Las aplicaciones para el S5065 incluyen diseño y prueba de componentes de RF, pruebas on-wafer (obleas de semiconductores, pruebas en campo, mediciones de perdidas por inserción, mediciones de distancia a falla (DTF), acoplamiento de antenas, control de calidad, medición de materiales y muchas otras.


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