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Tektronix DSA8300 Analizador Serial Digital. Osciloscopio de muestreo de hasta 80 GHz de ancho de banda modular. Ultra alto ancho de banda.

Tektronix DSA8300


 
Precio: $37,100.00 Dólares+IVA

Disponibilidad: 4 a 7 Semanas
Código del Producto: DSA8300

Descripción
 

El mainframe de Tektronix DSA8300 es un osciloscopio de muy alto ancho de banda. El sistema es modular y se puede configurar para tener modulos ópticos o eléctricos desde DC hasta 80 GHz. Usa lo más avanzado en tecnología de digitalización secuencial, y aunque la velocidad de muestreo no es muy rápida (hasta 300 kS/s), la tecnologia de medición de tiempos es extremadamente exacta para medir hasta menos de 100 fs (fempto segundos). Además es capaz de caracterizar señales de datos de alta velocidad de hasta mas de 45 GB/s y ver su tercera armónica.

Para caracterizar la señal, esta debe ser repetitiva o tener una fuente de sincronización disponible.

Un ejemplo de los módulos disponibles para el sistema DSA8300 (se venden por separado) son:

Tektronix 80C07B Modulo Optico de Muestreo para Fibra Optica usado en el DSA8300; 2.488 GB/S OC48/STM16,2.500 GB/S 2GBE,2.500 GB/S INFINIBAND;Ancho de banda optico de 2.5 GHz

Tektronix 80C12B Modulo de Muestreo para fibra optica para DSA8300 de 12 GHz, longitud de onda amplia 

Tektronix 80C08D Modulo Optico de Muestreo para Fibra de un Canal; Filtros receptores de 10G de referencia; 12 GHz de ancho de banda optico; modo single y multi-mode

Tektronix 80C11B Modulo Optico de Muestreo para Fibra Optica usado en el DSA8300; un canal con ancho de banda optico de 28 GHz con filtros de recepcion de 10G Opticos para Single-Mode

Tektronix 80C14 Modulo Optico de Muestreo para Fibra Optica usado en el DSA8300; Ancho de banda de 14+ GHz, longitud de onda amplia

Tektronix 80C10C Modulo Optico de Muestreo para Fibra Optica usado en el DSA8300; un canal con ancho de banda optico de 65/80 GHz


Lo último en fidelidad de la señal para las demandantes pruebas de caracterización de alta velocidad

Con una fluctuación de fase intrínseca líder en la industria de menos de 100 femtosegundos para la caracterización de dispositivos extremadamente precisos, la serie DSA8300 proporciona amplio soporte para estándares de comunicaciones ópticas, reflectometría de dominio del tiempo y parámetros-S. El DSA8300 es un osciloscopio de muestreo es una plataforma completa de alta velocidad para pruebas de la capa PHY para la comunicación de datos de 155Mb/sec a 100G.

CARACTERISTICAS Y BENEFICIOS

Módulo eléctrico de señales precisión de la medición:

  • Ultra-bajo jitter del sistema (<100 fs, típico)
  • > 70GHz

<100 fs fluctuación de fase intrínseca permite la caracterización de dispositivos de alta velocidad de bits (40 y 100 (4'25) Gb / s) con un  intervalo menor al <5% de la unidad de la señal que está siendo consumida por el equipo de control. Ancho de banda de 70 GHz permite la completa caracterización de señales de alta velocidad binaria (5 º armónico para velocidades de datos de 28 Gb / s, y 3 º armónico a velocidades de datos> 45 Gb / s).


Ruido del sistema más bajo de la industria en todos los anchos de banda:

  • 600 mV max (450 mV tip.) A 60 GHz
  • 380 mV max (280 mV tip.) A 30 GHz

Minimiza la cantidad de ruido instrumental en la adquisición de la velocidad binaria, señales de alta de baja amplitud para eliminar el ruido adicional que puede exhibirse como jitter adicional y cierre los ojos.



Hasta 6 canales de adquisición simultánea a <100 jitter fs en un único mainframe.


Adquisición de alta fidelidad de múltiples canales diferenciales permite la inspección de degradaciones cruzadas del canal y mejora el rendimiento de pruebas para sistemas con múltiples canales del tipo  serie de alta velocidad.



Módulos ópticos apoyan prueba de conformidad óptica tanto de 40 Gb / s y 100 Gb / s (4x25) Ethernet.

Proporciona rentable y sistema de prueba óptica versátil para 40 Gb y 100 Gb (4x25), el estándar Ethernet IEEE 802.ba.


Rendimiento de adquisición superior con hasta 300 frecuencia de muestreo máxima kS / s.

Reducido de fabricación o dispositivo de prueba de caracterización tiempos de 4X con el rendimiento del sistema superior.


Posibilidad de colocar las muestras adyacentes al dispositivo bajo prueba (DUT).


Cabezas de muestreo remoto minimizar la degradación de la señal debido a cables y dispositivos de fijación del DUT a la instrumentación y simplifica el sistema de prueba de-embed.


Canal independiente calibrado de-skew.


Después de haber integrado, calibrado alineación del canal en los módulos de doble canal, mejora la fidelidad de la señal para mediciones multicanal mediante la eliminación de sesgo.


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