3001iX-CTS
Disponible en una variedad de niveles de potencia que van desde 1250 VA a> 45,000 VA, los sistemas CTS cubren la gama completa de productos monofásicos y trifásicos que requieren pruebas para cumplir con los estándares IEC existentes y pendientes. Todas las fuentes de CA de la serie iX cumplen con los requisitos de IEC para distorsión de bajo voltaje y ofrecen generación de formas de onda arbitrarias, mediciones de precisión y capacidades de análisis de formas de onda. La distorsión real de la tensión de la fuente de CA se mide en tiempo real durante la prueba de armónicos y se indica claramente cualquier distorsión que pueda afectar los resultados de la prueba.
Todos los sistemas CTS basados en la serie iX también admiten pruebas de cumplimiento total para varios estándares de inmunidad de CA IEC 61000-4 (es posible que se requieran ciertas opciones, consulte la información de pedido para obtener más detalles).
Se utiliza un sistema de adquisición de datos basado en un procesador de señales digitales de alta velocidad para implementar el sistema de medición de cumplimiento de IEC requerido. El acceso directo al bus de la PC asegura una capacidad de rendimiento de datos mucho mayor que la que se encuentra normalmente en los sistemas de prueba IEC de caja única que utilizan la instrumentación IEEE-488, USB, LXI o bus RS-232 para comunicarse entre el instrumento de análisis y la PC.
Esta arquitectura de sistema de adquisición de alta velocidad almacena datos sin procesar en el disco duro y ofrece varias funciones. No solo posee la capacidad de admitir versiones futuras de estándares de prueba simplemente instalando nuevo software para PC, sino que también reduce en gran medida el riesgo de obsolescencia del producto a medida que evolucionan los estándares de prueba. Además, dado que los datos se transmiten al disco duro en tiempo real, se crea un registro de datos completo cada vez que se puede utilizar para fines de auditoría, reproducción de datos y análisis adicionales o para demostrar el cumplimiento de todos los requisitos de medición especificados en la norma de prueba. .
Se utiliza una unidad especial de acondicionamiento y aislamiento de señales para proporcionar una conexión rápida y fácil entre la salida de la fuente de CA y el equipo bajo prueba. Esta unidad proporciona el aislamiento, acondicionamiento de señal y filtrado anti-alias necesarios para el sistema de medición. El equipo bajo prueba puede enchufarse en el tomacorriente de estilo europeo montado en el panel frontal (solo sistemas monofásicos), o conectarse a un bloque de terminales montado en el panel trasero.
Una parte clave del sistema CTS es el analizador de potencia compatible con IEC que proporciona información detallada sobre voltaje y corriente. Las mediciones de armónicos e interarmónicos se realizan en tiempo real sin brechas de medición para cumplir completamente con la última revisión de la norma de prueba IEC 61000-4-7. El voltaje de la fuente de CA y la energía del EUT se monitorean continuamente durante toda la prueba. Los datos de distorsión de voltaje y armónicos de corriente se comparan con los límites de clase IEC para la detección de aprobación o falla. Se pueden generar fácilmente informes de prueba completos.
Los límites de prueba se conservan en una base de datos protegida con contraseña y se pueden actualizar si es necesario en el futuro sin necesidad de cambiar el software. Otros cambios de software como resultado de cambios en el estándar de armónicos IEC se pueden lograr simplemente instalando un nuevo software para PC. Ningún software de prueba de armónicos reside en el firmware del sistema, lo que requeriría actualizaciones de campo más costosas.
Un medidor de parpadeo compatible con IEC61000-4-15 es una parte integral del software CTS. La impedancia de referencia requerida que cumple con IEC 60725 se implementa en la fuente de CA de la serie iX utilizando impedancia de salida programable. La impedancia programable ofrece una precisión mejorada en comparación con una impedancia de referencia concentrada y la capacidad de admitir diferentes estándares nacionales sin la necesidad de cambiar el hardware de impedancia de referencia concentrada. Un buen ejemplo son las pruebas de conformidad con el estándar japonés de armónicos y parpadeo, que requiere que se programen diferentes valores de impedancia en comparación con el estándar de prueba europeo.
Opcionalmente, se puede pedir una impedancia concentrada que cumpla con IEC 60725 o la especificación de prueba Z de IEC61000-3-3 para sistemas CTS basados en la serie iX monofásicos o trifásicos. Para los sistemas CTS trifásicos, se recomienda una opción de impedancia concentrada. El software se puede configurar para utilizar cualquier tipo de impedancia durante la prueba de parpadeo.
Caracteristicas
