Probador de bobinado de impulso (baja inductancia)
El probador de devanados de impulso 19301A combinado con tecnología aplicada de alta/baja inductancia tiene un voltaje de impulso de 1000 V y una tasa de muestreo de alta velocidad de 200 MHz que satisface los requisitos de prueba para una amplia gama de productos de inductancia de potencia de 0,1 uH a 100 uH. Las funciones integradas de comparación de tamaño de área y área diferencial, valor FLUTTER y valor LAPLACIAN hacen que sea una forma eficaz de inspeccionar las bobinas en busca de un aislamiento deficiente.
La unidad analiza la forma de onda a alta velocidad con un sofisticado proceso de muestreo para detectar con éxito bobinas con un aislamiento deficiente y proporciona pruebas de tensión soportada sobre la calidad del devanado y del núcleo magnético.
El Chroma 19301A se puede aplicar a pruebas de componentes de bobinado de baja inductancia con una inductancia mínima de 0,1 uH. Las funciones proporcionadas para las pruebas de baja inductancia incluyen prueba de 4 hilos, verificación de contactos, verificación de inductancia y compensación de voltaje que evita errores de voltaje que resultan de la variación de la inductancia del dispositivo bajo prueba o la inductancia de cableado equivalente.
La pantalla a color y la función de captura de pantalla permiten al usuario guardar formas de onda a través del puerto USB en el panel frontal. El 19031A es adecuado para la producción in situ, así como para I+D y control de calidad.
Introducción y teoría de la prueba de impulso
La "Prueba de devanado de impulso" es una técnica "no destructiva" que aplica un pulso de alta velocidad y bajo voltaje al dispositivo bajo prueba y agrega un voltaje de impulso en el capacitor de oscilación (Cs) de la bobina en paralelo para que el capacitor y la bobina en paralelo generar una oscilación LCR. La atenuación de la oscilación se puede ver para conocer el estado interno de la bobina, incluidos el aislamiento, la inductancia y la capacitancia en paralelo (Cw) (consulte la imagen: Diagrama de prueba del circuito equivalente). A continuación, analice y compare la forma de onda equivalente de un DUT bueno y malo para la evaluación de aprobación y falla. La función de la prueba de devanado de impulso es descubrir los posibles defectos, como una capa de devanado corta, mala soldadura de electrodos, bobina interna o aislamiento del núcleo deficiente, etc. lo antes posible.
4 modos de evaluación de forma de onda
Tamaño del área
Esto compara cada tamaño de área de la bobina maestra y la bobina de muestra bajo formas de onda de prueba en la zona determinada intencionalmente.
Área diferencial
Esto calcula el tamaño del área de la porción diferencial entre las formas de onda de la bobina maestra y la bobina de muestra en la zona determinada intencionalmente.
Valor de aleteo
Esta prueba utiliza la diferenciación de primer orden para calcular el valor total. Esto puede detectar de manera efectiva la sobrelongitud de la forma de onda causada por una inductancia demasiado baja o por la presencia de una descarga eléctrica.
Valor laplaciano
Utiliza la diferenciación de segundo orden para calcular el valor máximo. Esto puede detectar efectivamente la discontinuidad de la forma de onda causada por una descarga eléctrica.
Tecnología de prueba
El Chroma 19301A está específicamente desarrollado para probar componentes de bobinado de baja inductancia. La prueba de capa corta para la inductancia en los productos es de 0,1 uH a 100 uH. La prueba para un DUT de baja inductancia es diferente de los productos generales, ya que se ve afectada fácilmente por la inductancia de cableado equivalente en el circuito de prueba que hace que el voltaje de prueba se distribuya al cableado y que el voltaje del DUT sea mucho más bajo que el voltaje establecido durante la medición. Además, la tensión de trabajo de un estrangulador de potencia de baja inductancia se utiliza para baja tensión, por lo que la tensión de prueba de impulso es normalmente inferior a la de los productos de inductancia comunes.
Rango de bajo voltaje
Los productos de baja inductancia, como el estrangulador de potencia para un teléfono inteligente, tienen un voltaje de funcionamiento más bajo y son de tamaño más pequeño, lo que hace que los voltajes de prueba sean relativamente bajos. Por lo tanto, el equipo de prueba de impulsos para medir baja inductancia requiere un rango de voltaje bajo para el análisis de forma de onda. El Chroma 19301A tiene 6 rangos de voltaje que incluyen 32 V, 64 V, 128 V, 256 V, 512 V y 1024 V, junto con el reconocimiento de voltaje más bajo de 0,25 V. El voltaje de prueba mínimo puede comenzar desde 10 V, lo que es capaz de aumentar la identificación de una forma de onda.
Pruebas de productos de alta/baja inductancia
Además de las pruebas de productos de baja inductancia, el Chroma 19301A también cubre las pruebas de productos de alta inductancia de 0,1 uH ~ 100 uH. La función de detección de inductancia interna es una operación muy conveniente que permite al usuario conocer la cantidad de inductancia del dispositivo bajo prueba, cambiar al rango adecuado para la prueba y realizar comparaciones bajo una forma de onda adecuada. Un probador corto de una sola capa combinado con la aplicación de prueba de productos de alta/baja inductancia no solo acorta el tiempo de cambios de equipo al cambiar la línea de productos, sino que también reduce los gastos de las instalaciones de la fábrica.
Prueba de 4 hilos
Dado que la detección de voltaje del dispositivo de prueba de cortocircuito de capa de 2 hilos común está dentro del bucle de corriente, el voltaje medido es bastante diferente del DUT para pruebas de baja inductancia. El Chroma 19301A utiliza detección coaxial dual de 4 hilos para mejorar significativamente la precisión del voltaje para obtener resultados de prueba correctos.
Tensión de ruptura (BDV)
La función de prueba de voltaje de ruptura del Chroma 19301A utiliza la velocidad de cambio de voltaje para detectar si los valores de tamaño de área y laplaciano están por encima del valor límite establecido y prueba el voltaje de resistencia de la bobina al establecer el voltaje de inicio/final y el número de paso. Los ingenieros de I+D pueden realizar análisis e investigaciones de productos para reducir cualquier punto débil dentro de una bobina a través de esta función.
Comprobación de contacto (patente)
Para evitar un contacto deficiente o condiciones de circuito abierto que puedan hacer que la sonda del dispositivo parpadee debido a la salida de voltaje interno máximo que puede dañar el dispositivo bajo prueba o la sonda, el Chroma 19301A realiza una verificación de contacto antes de la prueba para prolongar la vida útil de la sonda.
Compensación de voltaje (patente)
Para pruebas de bobinas de gran inductancia, como un transformador, la inductancia de cableado equivalente es relativamente pequeña. Sin embargo, al realizar pruebas de baja inductancia (como 0,2 uH), la cantidad de inductancia de cableado equivalente puede afectar el voltaje real en el dispositivo bajo prueba. Reducir el impacto del cableado es una de las principales preocupaciones de diseño, especialmente para las pruebas automatizadas. Las cantidades excesivas de impedancia de cableado hacen que el voltaje se distribuya en el cable de prueba cuando se realizan pruebas de baja inductancia y puede pasar desapercibido porque el voltaje es más bajo que el valor establecido.
Además, la especificación del producto de inductancia es de hasta un 30 %, por lo que la diferencia de voltaje del terminal real es aún más evidente cuando la inductancia del dispositivo bajo prueba cambia en las pruebas de baja inductancia. Esto podría causar que la detección del tamaño del área falle o que el voltaje de prueba no cumpla con el requisito. El Chroma 19301A tiene una función de compensación de voltaje diferencial de inductancia que puede resolver estos problemas y reducir los errores de juicio que resultan de las diferencias de voltaje reales causadas por un error de inductancia.
Caracteristicas
