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Copper Mountain S5065 Analizador de Redes Serie Compact 50 Ohm, 20 kHz a 6.5 GHz, 2-Puertos 2-Trayectorias, Parametros S (S11, S21, S12, S22)
Copper Mountain S5065 Analizador de Redes Serie Compact 50 Ohm, 20 kHz a 6.5 GHz, 2-Puertos 2-Trayectorias, Parametros S (S11, S21, S12, S22)
 
Vistas alternativas:


Precio: $14,294.50 Dólares + IVA

Disponibilidad: 6 a 8 Semanas
Código del Producto: S5065

Descripción
 
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Video en inglés de los analizadores de Redes Compact de Copper Mountain Technologies
El compacto analizador de redes S5065 de Copper Montain Technologies es un VNA de 6.5 GHz, de 2-puertos capaz de tener un rango dinamico de 138 dB.
Esta diseñado para operar en cualquier PC con ambiente Windows.
Gracias a su gran portabilidad, el S5065 puede ser compartido fácilmente dentro de un equipo de trabajo, o llevado al sitio de pruebas.
La aplicación del VNA es gratis y se conecta al VNA por medio de un cable USB estandar, de esta manera se crea una solución segura a futuro, ya que no depende de la computadora interna para el proceso de los datos.
Además se tiene un instrumento fácil de usar con respecto a los instrumentos de banco convencionales.


El S5065 provee una amplia capacidad de analisis, incluyendo analisis en el dominio del tiempo con modos de offset de frecuencia y de gating. SIn costo adicional se pueden hacer mediciones de grado metrologico de parámetros S. Los resultados de la prueba se pueden guardar de manera manual o usando automatizacion a traves de Python, MATLAB, Excel, C++, VB.NET, o LabVIEW.

  • Rango de frecuencia: 9 kHz a 6.5 GHz
  • Medición de parametros: S11, S12, S21, S22
  • Tipos de barrido: Lineal en frecuencia, logaritmico en frecuencia, segmentado, o barrido de potencia
  • Rango dinámico típico mayor a: >138 dB (con un rango de frecuencia intermedia IF de 1 Hz)
  • Velocidad de medición: 70 µs, mínimo típico.
  • Rango de ajuste de salida de potencia de: -50 dBm to +5 dBm
  • Hasta 200,001 puntos de medición por barrido

Las aplicaciones para el S5065 incluyen diseño y prueba de componentes de RF, pruebas on-wafer (obleas de semiconductores, pruebas en campo, mediciones de perdidas por inserción, mediciones de distancia a falla (DTF), acoplamiento de antenas, control de calidad, medición de materiales y muchas otras.


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