La tarjeta de matriz de semiconductores modelo 7072 está diseñada específicamente para manejar mediciones de bajo nivel y alta impedancia encontradas en pruebas paramétricas de semiconductores en obleas y dispositivos. Este diseño único proporciona dos circuitos de baja corriente con una corriente de compensación máxima especificada de 1pA para una resolución de medición sensible de subpicoamperios y dos rutas de CV para la medición de las características de voltaje de capacitancia de CC a 1MHz. Cuatro rutas de señal de alta calidad adicionales con una corriente compensada de <20 pA proporcionan una conmutación de señal de uso general de hasta 100 nA o 200 V.
Las conexiones son triaxiales de 3 lengüetas con la carcasa exterior conectada al chasis para mayor seguridad y protección contra el ruido. El conductor central está completamente rodeado por el blindaje conductor interno, de modo que se pueden realizar mediciones totalmente protegidas para lograr un mayor aislamiento y mejorar la velocidad y precisión de la medición.
Los relés de aislamiento en las rutas de baja corriente y CV desconectan automáticamente los circuitos no utilizados para lograr la mínima interferencia y el máximo rendimiento. El mainframe 707A o 708A permite programar cada fila (ruta de la señal) para la operación Break-Before-Make o Make-Before-Break.
Para aplicaciones que requieren conexiones a una gran cantidad de dispositivos o puntos de prueba, la matriz 7072 se puede ampliar con tarjetas adicionales. Las filas de baja corriente y CV se pueden extender a otras tarjetas con puentes coaxiales. Las otras cuatro rutas de señal de alta calidad se conectan directamente al backplane 707A para expansión.
