Los medidores y analizadores de impedancia Hioki LCR van desde dispositivos de 1 mHz a 3 GHz para adaptarse a una amplia gama de aplicaciones en la prueba de componentes electrónicos. El IM7581-02 ofrece un tiempo de medición máximo de 0,5 ms en un rango de frecuencia de 100 kHz a 300 MHz, lo que lo hace ideal para la producción de gran volumen de microesferas de ferrita e inductores de microprocesador.
Características principales:
- Frecuencia de fuente de prueba de 100 kHz a 300 MHz
- Velocidad de prueba más rápida de 0,5 ms (tiempo de medición analógico)
- ±0,72 % de la lectura. precisión básica
- Cuerpo del tamaño de medio rack y cabezal de prueba del tamaño de la palma de la mano
- Verificación integral de contactos (a través de pruebas DCR, rechazo Hi-Z o juicio de forma de onda)
- Realice barridos de frecuencia, barridos de nivel y mediciones de intervalos de tiempo en el modo Analizador
Especificaciones básicas:
- Modos de medición: Modo LCR, modo Analizador (barridos con frecuencia de medición y nivel de medición), modo de medición continua.
- Parámetros de medición: Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
- Rango medible: 100 mΩ a 5 kΩ
- Rango de visualización: Z: 0,00 m a 9,99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0,00 m a 9,99999 GΩ)
- Ls, Lp: ± (0,00000 n a 9,99999 GH) / Q: ± (0,00 a 9999,99)
- θ: ± (0,000° a 180,000°), Cs, Cp: ± (0,00000 p a 9,99999 GF)
- D: ± (0,00000 a 9,99999), Y: (0,000 n a 9,99999 GS)
- G, B: ± (0,000 n a 9,99999 GS), %: ± (0,000 % a 999,999 %)
- Precisión básica: Z: ±0,72 % lect. θ: ±0,41°
- Frecuencia de medición: 100,00 kHz a 300,00 MHz (resolución de 5 dígitos)
- Nivel de señal de medición: Potencia: -40,0 dBm a +7,0 dBm
- Voltaje: 4 mV a 1001 mVrms
- Corriente: 0,09 mA a 20,02 mArms
- Potencia, tensión y corriente configuradas por el usuario
